Scanning Tunneling Microscopy | Atomic Force Microscopy
3-Second Blueprint (English)
- Scanning Tunneling Microscopy (STM) applies bias voltage across a nano-tip to measure quantum tunneling current at ~0.1 nm resolution.
- Atomic Force Microscopy (AFM) tracks laser reflection off a micro-cantilever deflected by attractive and repulsive atomic forces.
- AFM tapping mode oscillates the probe at intermediate height, balancing contact mode's high resolution with non-contact sample safety.
Scanning Tunneling (STM)Atomic Force (AFM)Quantum TunnelingCantilever Tapping Mode
3-Sekunden-Fazit (Deutsch)
- Das Rastertunnelmikroskop (STM) nutzt eine Vorspannung an einer Nanospitze und misst den Quantentunnelstrom mit ~0,1 nm Auflösung.
- Das Rasterkraftmikroskop (AFM) erfasst per Laserreflexion die Auslenkung eines Cantilevers durch anziehende und abstoßende Atomkräfte.
- Der Tapping-Modus lässt die Spitze schwingen und vereint hohe Auflösung des Kontaktmodus mit schonender Probenabtastung.
Rastertunnelmikroskop (STM)Rasterkraftmikroskop (AFM)QuantentunneleffektTapping-Modus
Note / Hinweis: Blueprints are AI-generated educational summaries (0% Politics · 0% Religion · 0% Brainrot) and do not constitute medical, legal, or financial advice. / KI-generierte Zusammenfassung zu Bildungszwecken – ersetzt keine medizinische, rechtliche oder finanzielle Fachberatung.