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Non-Contact Mode | How AFM Works - Principle of Atomic Force Microscopy

Non-Contact Mode | How AFM Works - Principle of Atomic Force Microscopy
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3-Second Blueprint (English)

  1. Non-contact AFM oscillates a probe cantilever near its natural resonant frequency just above the sample surface.
  2. Short-range attractive atomic forces shift the cantilever's resonance lower, decreasing oscillation amplitude near the surface.
  3. A Z-scanner feedback loop adjusts tip height to hold a constant setpoint amplitude, mapping topography without sample damage.
Atomic Force MicroscopyCantilever ResonanceZ-Scanner Feedback LoopNanoscale Topography

3-Sekunden-Fazit (Deutsch)

  1. Im Non-Contact-AFM schwingt der Cantilever nahe seiner Eigenresonanzfrequenz dicht über der Probenoberfläche.
  2. Anziehende Atomkräfte verschieben die Resonanzfrequenz nach unten und verringern die Schwingungsamplitude nahe der Probe.
  3. Ein Z-Scanner-Regelkreis hält die Soll-Amplitude konstant und bildet die Topografie ohne Spitzen- oder Probenschäden ab.
RasterkraftmikroskopieCantilever-ResonanzZ-Scanner-RegelkreisNanotopografie

Note / Hinweis: Blueprints are AI-generated educational summaries (0% Politics · 0% Religion · 0% Brainrot) and do not constitute medical, legal, or financial advice. / KI-generierte Zusammenfassung zu Bildungszwecken – ersetzt keine medizinische, rechtliche oder finanzielle Fachberatung.